什么是WAT(晶圆接受测试,Wafer Acceptance Test)?

2021年11月7日 WAT的目的是通过测试晶圆上特定测试结构的电性参数,检测每片晶圆产品的工艺情况,评估半导体制造过程的质量和稳定性,判断晶圆产品是否符合该工艺技术平台的电性规格要求。WAT数据可以...

晶圆可接受度测试(WAT)

2020年2月27日 晶圆生产出来后,在出晶圆厂之前,要经过一道电性测试,称为晶圆可接受度测试(WAT)。这个测试是测试在切割道(Scribe Line)上的测试键(TestKey)的电性能。测试键通...

WAT工艺参数测试

2020年8月26日 资源描述: 《WAT工艺参数测试》由会员分享,可在线阅读,更多相关《WAT工艺参数测试(19页珍藏版)》请在人人文库网上搜索...输入检查系统12总结14致谢15参考文献16 第一章 引言1.1课题...

半导体wat是什么意思

最佳答案: 半导体Wat是指晶圆生产出来后，在出晶圆厂之前，要经过一道电性测试，称为晶圆可接受度测试（WAT）。晶圆生产出来后，在出晶圆厂之前，要经过一道电性测试，称为晶....new-pmd .c-abstract br{display: none;}更多关于半导体wat测试gm的问题<<

了解芯片测试就这么简单

2017年8月25日 因为代工厂只负责他自己的工作是无误的,芯片本身性能如何那是设计公司的事儿。只要晶圆的WAT测试是满足规格的,晶圆厂基本上就没有责任。如果有失效,那就是制造过程出现了问题。 WAT...

芯片测试的几个术语及解释(CP、FT、WAT)

2017年9月21日 CP 对整片Wafer的每个Die来测试 而FT 则对封装好的Chip来测试。 CP Pass 才会去封装。然后FT,确保封装后也Pass。 WAT 是 Wafer Acceptance Test ,对专门的测试...

复旦大学半导体参数测试系统及WAT软件项目中标公告

2017年12月6日 项目用途:半导体功率参数测试系统通过PXI平台提供半导体功能测试环境,支持高密度精密源测量通道,提供了包括机箱、精密源通道、电压电流输出和测量等功能,用于完...